Spannungsteiler Verhaeltnis für Batteriespannung und Zener-Spannung in config.h und Makefile aenderbar.
1.09 / 30.11.2013
Beseitigung des Ueberlaufproblems bei der Ladezeitmessung in ReadCapacity mit Sleep Mode.
Die Art der Zaehler-Ueberlaufbehandlung in ReadCapacity mit Sleep Mode geaendert.
Programmierfehler bei der Kalibration der Nullkapazitaet beseitigt.
Vorbereitungen fuer Untersuchungen mit alternativen Messwiderstaenden 330/100k.
Zwei LED werden auch dann erkannt, wenn Schwellspannung >2V und keine gemeinsame Anode oder Kathode.
Mit der Makefile Option NO_TEST_T1_T7 werden die Selbsttests T1 bis T7 weggelassen für eine schnellere Kalibration.
Die Makefile Optionen NO_COMMON_EMITTER_HFE und NO_COMMON_COLLECTOR_HFE ergänzt, um gezielt
eine der beiden Meßmethoden wegzulassen. Beim ATmega168 wird dann der Selbsttest T1 bis T7 benutzt.
Für den ATmega168 werden beide hFE Messungen verwendet, dafür entfallen die Selbsttests T1 bis T7 .
Ergänzung der litauischen Sprache LANG_LITHUANIAN.
Der Selbsttest muss jetzt mit Tastendruck quittiert werden, sonst normale Messung.
Anpassung der Diodenerkennung, Begrenzug der Spannungsdifferenz.
Display-Anzeigezeit in der Dokumentation auf 28 Sekunden berichtigt.
1.08 / 1.10.2013
Bei BAT_POOR Pegel unter 3.25V ist der Warnpegel nur 0.2V höher. (Die Grenze war vorher bei <=2.9V).
Die Ueberpruefung der Ausgangs-Widerstandswerte in Calibrate_UR.c wurde entfernt.
Unterstuetzung von DOG-M LCDs mit ST7036 controller mit Makefile Option LCD_DOGM .
Neue Unterverzeichnisse mega328 und mega328_strip_grid für ATmega328 Daten.
Ergänzung der russischen und ukrainischen Sprache.
Wegen Speichermangel wird die Stromverstärkung nur beim mega328 in Kollektor und Emitterschaltung gemessen.
Bei der Bestimmung des Stromverstärkungsfaktor in Emitterschaltung wird der Kollektor-Reststrom berücksichtigt.
Bei Einzeldioden wird auch der Reststrom in Sperrichtung gemessen, der Text Diode entfällt.
Grenze für die Erkennung von Verarmungs FET von 92 auf 455 erhöht wegen Restströmen bei Germanium Transistoren.
Abhängigkeit von IGBT Erkennung als E-MOS von der gewählten Pinbelegung beseitigt.
Ergänzung der portugiesischen Sprache LANG_BRASIL .
In Makefile den Parameter BitClock fuer avrdude eingebaut zur Anpassung der Programmiergeschwindigkeit.
Reihenfolge 470k/680 Ohm Test bei Dioden vertauscht und vorherige Entladung wegen Falscherkennung von Elkos.
1.07 / 19.04.2013
Makefile Option NO_NANO ergänzt.
Funktion GetVloss fuer Kondensatoren mit mehr als 5nF erweitert, vorher 50nF.
Beim Selbsttest wird das Loesen des Kurzschluss bei Test 4 ueberwacht, AllProbesShorted von Markus R.
Die Funktion GetESR wird beim Abgleich benutzt, um den Nullwiderstand zu bestimmen (pin-abhaengig).
Funktion GetESR wird auch fuer Widerstandswerte unter 10 Ohm benutzt.
Funktion GetESR durch neue Assembler Funktion ersetzt.
Neue Funktion GetVloss, um den Spannungsverlust nach einem Ladepuls bei Kondensatoren kleiner 45uF zu messen.
Die Funktion GetESR auf Assembler umgestellt, um die Zeitfolge unabhaengig von Optimierung des Kompilers zu machen.
Belegung von Flash und EEprom Speicher optimiert.
BAT_POOR Pegel in der Makefile auf mV Angabe umgestellt, bei Angabe unter 1.3V  nur +0.1V Warnung.
ESR-Messung fuer Kondensatoren ab 0.45uF mit 500kHz ADC Clock ergaenzt.
Die Aufloesung der Induktivitaetsmessung wird mit 680 Ohm Widerstand auf 0.1mH gesetzt.
Die Pinreihenfolge bei Einzeldioden wird bei ATmega168/328 entsprechend EBC_STYLE ausgegeben.
1.06 / 23.2.2013
Das My und Omega Zeichen werden bei der seriellen Ausgabe durch u und Ohm ersetzt.
Baudrate für serielle Ausgabe ist 9600 unabhängig der Taktrate.
Korrekturen systematischer Fehler bei der Induktivitätsmessung eingebaut.
Ermittlung der Pin-Ausgangswiderstände vor jeder Messung bei Option AUTO_CAL.
Pinbelegung auch in der Form 321= moeglich mit Option EBC_STYLE=321 .
Beseitigung Compiler Warnung in ReadCapacity.
Warteschleife bei automatischer Abschaltung für Dauerbetrieb geeignet.
wait mit sleep in den lcd-routines verwendet.
Pinbelegung in 123= Form auch bei mega8 möglich.
Thyristor und Triac Pinbelegung in 123= Form wie bei Transistoren.
Sleep bei der Zeitkonstantenmessung mit Counter 1 eingebaut.
Option INHIBIT_SLEEP_MODE zum Abschalten des Schlaf Modus eingebaut.
1.05 / 19.01.2013
Die GetESR Routine wurde überarbeitet und für den 16MHz Betrieb angepasst.
Die 2.5V Referenz wird mit Ausgang PC4 nach der Messung auf GND gezogen,
damit kann ein Relais mit zwei Ruhekontakten zum Schutz der Eingänge geschaltet werden.
Die VCC Spannungsausgabe in Zeile 2 erscheint nur bei der ersten Messung.
Selbsttest 7 misst das Spannungsverhältnis von 680/470k .
ADC Messung mit noise reduction sleep Modus für mega168 und mega328.
Absenkung des Stromverbrauchs bei Wartezeit durch sleep Modus für mega168 und mega328.
BAT_POOR Schwelle kann auch unter 5.4V gesetzt werden wegen step up Wandler Versorgung.
CombineII2long ersetzt durch union Schreibweise.
Testausgabe fuer die Bestimmung der Spannungshöhe für digitalen Input (Zeile 3+4, deaktiviert).
Einbau einer anderen Methode der MOS Vth Spannungsmessung (deaktiviert).
1.04 / 01.12.2012
Die Texte in ReadMe.txt und LiesMich.txt ueberarbeitet.
Kommentare im Konfigurationsteil der Makefile ueberarbeitet.
Ausgabeformat für die Pinbelegung von Transistoren von EBC= auf 123= geaendert
Fehlender interner Pull-Up an Start-Pin ergaenzt.
Bei Version ohne Abschaltung ist die Anzeigezeit auf 14s verlaengert
Ergaenzung der Niederländischen Sprache
1.03 / 23.11.2012
Makefile für ATmega8 mit Option WITH_AUTO_REF.
Standardwert für Referenzspannung des ATmega8 nach Messung mit 9 Exemplaren geändert.
Optionen C_MESS und R_MESS aus der Makefile entfernt.
Ausgabe der VCC Spannung separat in 2. Zeile für eine Sekunde, wenn Präzisionsreferenz erkannt.
1.02 / 01.11.2012
LCD Pin Belegung frei wählbar für Streifenleiterplatine (Dank an Stephen E.)
Meßverfahren ohne 680 Ohm Widerstand für Induktivitäten bis zu einem Widerstand von 24 Ohm (vorher 8 Ohm).
Bei erkannter Diode wird kein Widerstand mehr gesucht (MBR 3045 Problem).
1.01 / 19.10.2012
Induktivitätsmessung nur bei Widerständen kleiner als 2100 Ohm.
ESR Messung  mit Nullabgleich bei "negativem" Widerstand (ESR=?).
Voreinstellung des Nullwertes der ESR-Messung in der Makefile.
Bei Induktivitätsmessung Null-Offset abhängig von 680 Ohm Widerstand.
Vermeidung von negativen Werten fuer "unsigned int" Spannungen bei Kapazitätsberechnung.
ESR-Messung ab 2 uF , kapazitätsabhaengiger Fehler durch Zeitverzug der Einzelmessungen kompensiert.
Organisatorische Änderungen zum Trennen von Programmteilen.
ESR-Messung für Kondensatoren ab 4 uF.
Ergänzung einer ESR-Messung für Kondensatoren über 50 uF (nur mega168 und mega328).
1.00 / 23.09.2012
Messung von Induktivitäten auch ohne 680 Ohm Widerstand, wenn Widerstandswert unter 8 Ohm.
Messung der Spannung bei Widerständen erst, wenn keine Änderung oder Abbruch bei Zeitüberschreitung.
Messung von Induktivitäten > 1mH eingefügt, der Wert wird zusätzlich zum Widerstandswert ausgegeben.
VCC Spannungsabhängigkeit der Kondensatormessung kompensiert.
Verarbeitung der 2.5V Spannungsreferenz, um korrekte VCC Spannung zu verarbeiten.
Bei Selbsttest 10-11 wird nur der Korrekturwert für den Komparatoroffset ausgegeben und
wenn die AUTOSCALE_ADC Funktion gewählt wurde, der Korrekturwert für die interne Referenz.
Bei Selbsttest 9 werden die gefundenen Nullwerte der Kapazitätsmessung ausgegeben.
Die Selbsttest-Funktion 7 und 8 werden nur noch die Port-Innenwiderstände in Ohm ausgegeben.
Die Selbsttestfunktionen 7-11 werden separat mit der AUTO_CAL Funktion angewählt und die
gefundenen Werte im EEprom festgehalten.
Die Wiederholanzahl für Selbsttest Nr. 1-6 wurde auf 4 reduziert.
Die Beschränkung für hFE < 65536 entfällt.
Die Option UF_OUT_MV entfällt.
Die Funktion value_out wurde durch die Funktion DisplayValue ersetzt, Dank an Markus Reschke!
Der CAP_EMPTY_LEVEL wurde in der Makefile von 3 auf 4 angehoben.
Wegen der einstellbaren VCC Spannung die Ausgabe der Selbsttest-Funktion auf Differenzen umgestellt.
Für die Widerstandmessung kann die Auflösung der ReadADC-Funktion um Faktor 4 angehoben werden.
Neue ReadADC Funktion mit einstellbarer VCC Spannung und frei wählbarer ANZ_MESS.
Erweiterung der Autokalibration für AUTOSCALE_ADC (Widerstandsmessung, REF_R_KORR).
Beim avrdude Aufruf für das fuse Setzen beim ATmega328 in der Makefile wird auch efuse gesetzt.
0.99 / 15.08.2012
Autokalibration fuer Kondensatormessung < 40µF (REF_C_KORR).
Ausgabeformat fuer FET Schwellspannung in V.
Makefile und config.h für die PicoPower Prozessorvariante -P angepaßt.
Abgleich der Pin-Ausgangswiderstände bei Selbsttest ergaenzt.
Nullabgleich fuer Kondensatormessung bei Selbsttest ergänzt.
Beseitigung der Ursache fuer falsche Pinnummern-Anzeige bei Widerstandsmessung (Dank an Markus Reschke).
Fuer den Serienmessung kann die Anzeige der Messung verlaengert werden, wenn der Startknopf lang gedrueckt wird
(modifizierter Vorschlag von Markus Reschke).
0.98 / 26.07.2012
Für große Kondensatoren wird der Spannungsverlust während der Ladezeit berücksichtigt.
Beseitigung des rcall & call Problems bei ReadADC.S für den ATmega168
Erweiterung und Anpassungen für 16 MHz Takt Betrieb.
Anpassung des Null-Wertes für die Kondensatormessung für die Platinen-Version 5.2.1 .
Korrektur des Überlaufproblems bei der Kondensatormessung (etwa 6uF bis 11uF).
Verbesserung der Widerstandsmessung im mittleren Bereich.
Korrektur der ANZ_MESS Steuerung (ANZ_MES).
0.97 / 09.06.2012
erste Transistortester Version im svn Archiv
